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    原子吸收学习三部曲

    以下为正文 :

     

    原子吸收光谱法的原理

    原子吸收分光光度计(AAS)又称为原子吸收光谱仪 ,是利用光源发出被测的特征光谱辐射,被经过原子化器后的样品蒸气中的待测元素的气态基态原子会吸收从光源发出的被测元素的特征辐射线 ,具有一定选择性,由辐射减弱的程度求得样品中被测元素的含量 。

    当辐射通过原子蒸汽,且辐射频率等于原子中电子由基态跃迁到较高能态所需要的能量的频率时,原子从入射辐射中吸收能量 ,产生共振吸收 。

    原子吸收光谱是由于电子在原子基态和第一激发态之间跃迁产生的。每一种原子的能级结构均是独特的 ,故原子有选择性的吸收辐射频率 。因此,在所有情况下,均可产生反映该种原子结构特征的原子吸收光谱 。

     

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    原子吸收光谱法的特点

    原子吸收光谱法的优点是具有较高灵敏度和精密度,并具有较好选择性和较强抗干扰能力。另外 ,在实际应用过程中便于快速操作,分析范围相对较广泛。

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    原子吸收光谱检测方法

    01
    氢化物发生法

    氢化物发生法适用于容易产生阴离子的元素,如Se、Sn、Sb、As、Pb、Hg 、Ge 、Bi等。这些元素一般不采取火焰原子化法检测,而是用硼氢化钠处理,因为硼氢化钠具有还原性,可以将这些元素还原成为阴离子,与硼氢化钠中电离产生的氢离子结合成气态氢化物。

    如:土壤监测中运用流动注射氢化物原子吸收检测河流中所含的沉积物汞和砷,经过试验后,检出砷限为2ng/L,精密度为1.35%至5.07%,准确度在93.5%至106.0%;检出汞限为2ng/L,精密度为0.96%至5.52%,精准度在93.1%至109.5%。这种方法不仅快速、简便,且准确度和精密度非常高,能更好的测试和分析环境样品。

     

    02
    石墨炉原子吸收光谱法

    石墨炉原子吸收光谱法是一种用电流加热原子化的分析方法。横向加热石墨炉解决了温度分布不均匀的问题。

    石墨炉原子化的出现非常之重要,对于火焰原子化有着较为明显的优越性 ,与火焰原子化技术对比,灵敏度提高到3到4个数量线,达到了10-12至10-14g的灵敏度 ,但是石墨炉原子吸收光谱法还是存在一定的局限性:重现性还没有火焰法高,当待测样品比较复杂时,产生的结果会有很大的误差  。

     

    03
    火焰原子吸收光谱法

    目前,火焰原子吸收光谱法还是应用最为广泛的方法。因为其对大多数的元素都适用,而且具有速度快,成本低,操作简单,结果误差不大的优势。

    在实验室中 ,大多采用空气-乙炔火焰 ,温度约为2300摄氏度 ,并不能完全融化所有元素,所以在后续的实验中将空气改为了预混合氧 ,提高氧气的含量来使火焰温度升高。再后来有人提出火焰改为氧化亚氮-乙炔(笑气乙炔),这种火焰高温度可达3000摄氏度,能有效解决大多数难融元素的问题。

     


    干扰及其消除方法

    01
    物理干扰

    物理干扰是指试样在转移、蒸发过程中任何物理因素变化而引起的干扰效应。属于这类干扰的因素有:试液的粘度、溶剂的蒸汽压、雾化气体的压力等 。物理干扰是非选择性干扰 ,对试样各元素的影响基本是相似的 。

    配制与被测试样相似的标准样品,是消除物理干扰的常用的方法。在不知道试样组成或无法匹配试样时,可采用标准加入法或稀释法来减小和消除物理干扰 。

     

    02
    化学干扰

    化学干扰是指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应 ,它主要影响待测元素的原子化效率 ,是原子吸收分光光度法中的主要干扰来源。它是由于液相或气相中被测元素的原子与干扰物质组成之间形成热力学更稳定的化合物,从而影响被测元素化合物的解离及其原子化 。

    消除化学干扰的方法有 :

    化学分离;使用高温火焰 ;加入释放剂和保护剂;使用基体改进剂等。

     

    03
    电离干扰

    在高温下原子电离,使基态原子的浓度减少 ,引起原子吸收信号降低,此种干扰称为电离干扰。电离效应随温度升高、电离平衡常数增大而增大,随被测元素浓度增高而减小。

    加入更易电离的碱金属元素 ,可以有效地消除电离干扰 。

     

    04
    谱干扰

    光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在非吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散射等 。当采用锐线光源和交流调制技术时 ,前3种因素一般可以不予考虑,主要考虑分子吸收和光散射地影响,它们是形成光谱背景的主要因素 。

    分子吸收干扰是指在原子化过程中生成的气体分子、氧化物及盐类分子对辐射吸收而引起的干扰 。光散射是指在原子化过程中产生的固体微粒对光产生散射,使被散射的光偏离光路而不为检测器所检测,导致吸光度值偏高 。

     

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